Titre original :

Etude de HEMT's AlInAs/GaInAs à désertion et à enrichissement pour applications haute fréquence

Mots-clés en français :
  • Tension de pincement
  • Transistors à haute mobilité d'électrons (HEMT)

  • Transistors à effet de champ
  • Circuits intégrés numériques
  • Circuits intégrés pour microondes
  • Phosphure d'indium
  • Arséniure de gallium
  • Langue : Français
  • Discipline : Microondes et microtechnologies
  • Identifiant : 2005LIL10083
  • Type de thèse : Doctorat
  • Date de soutenance : 01/01/2005

Résumé en langue originale

Les circuits fonctionnent à des fréquences toujours plus élevées. L'objectif de ce travail est de réaliser une technologie HEMT AlInAs/GaInAs; sur InP ou métamorphique sur GaAs, à désertion ou à enrichissement pour la conception de circuits d'architecture complexe fonctionnant à des débits au-delà de 100 Gb/s ou en gamme d'onde millimétriques. Après avoir modélisé la structure d'un HEMT à enrichissement, nous étudions la technologie la plus adaptée à la réalisation de transistors. Un HEMT N-OFF AlInAs/GaInAs métamorphique sur GaAs est obtenu (LG= 0,13 m, fT = 155 GHz). Enfin, nous développons une technologie à double seuil. Les HEMTs ON AlInAs/GaInAs sur InP réalisés ont une tension de pincement de -0,48 V, (LG= 0,1 m, fT = 210 GHz). Les HEMTs OFF réalisées ont une tension de pincement de 0 V (LG= 0.14 m, fT = 160 GHz). Ces transistors, à l'état de l'art, peuvent être réalisés sur le même substrat et ouvrent des perspectives pour la réalisation de circuits à haute fréquence.

  • Directeur(s) de thèse : Cappy, Alain - Bollaert, Sylvain

AUTEUR

  • Roucher, Vincent
Droits d'auteur : Ce document est protégé en vertu du Code de la Propriété Intellectuelle.
Accès réservé aux membres de l'Université de Lille sur authentification