Etude de HEMT's AlInAs/GaInAs à désertion et à enrichissement pour applications haute fréquence
- Tension de pincement
- Transistors à haute mobilité d'électrons (HEMT)
- Transistors à effet de champ
- Circuits intégrés numériques
- Circuits intégrés pour microondes
- Phosphure d'indium
- Arséniure de gallium
- Langue : Français
- Discipline : Microondes et microtechnologies
- Identifiant : 2005LIL10083
- Type de thèse : Doctorat
- Date de soutenance : 01/01/2005
Résumé en langue originale
Les circuits fonctionnent à des fréquences toujours plus élevées. L'objectif de ce travail est de réaliser une technologie HEMT AlInAs/GaInAs; sur InP ou métamorphique sur GaAs, à désertion ou à enrichissement pour la conception de circuits d'architecture complexe fonctionnant à des débits au-delà de 100 Gb/s ou en gamme d'onde millimétriques. Après avoir modélisé la structure d'un HEMT à enrichissement, nous étudions la technologie la plus adaptée à la réalisation de transistors. Un HEMT N-OFF AlInAs/GaInAs métamorphique sur GaAs est obtenu (LG= 0,13 m, fT = 155 GHz). Enfin, nous développons une technologie à double seuil. Les HEMTs ON AlInAs/GaInAs sur InP réalisés ont une tension de pincement de -0,48 V, (LG= 0,1 m, fT = 210 GHz). Les HEMTs OFF réalisées ont une tension de pincement de 0 V (LG= 0.14 m, fT = 160 GHz). Ces transistors, à l'état de l'art, peuvent être réalisés sur le même substrat et ouvrent des perspectives pour la réalisation de circuits à haute fréquence.
- Directeur(s) de thèse : Cappy, Alain - Bollaert, Sylvain
AUTEUR
- Roucher, Vincent