• Langue : Français
• Discipline : Informatique
• Identifiant : 2001LIL10015
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/2001

Résumé en langue originale

L'utilisation d'objectifs de tests pour vérifier la conformité des applications par rapport à leurs spécifications s'avère être une des solutions les plus prometteuses pour le domaine de la carte à puce. En effet, elle permet d'allier à la fois rigueur et risques, non seulement en tirant profit des techniques de génération automatique de tests, mais également en permettant au testeur d'éliminer les tests qui ne lui semblent pas pertinents. Cependant, tant que cette élimination est implicite, le testeur ne peut pas réellement maîtriser les risques. Pour répondre à ce besoin, nous proposons une méthodologie de test d'applications embarquées dans les Java Card. Cette méthodologie s'appuie sur des travaux de recherche menés autour de la génération de suites de tests à partir d'UML. Elle tire ainsi profit de techniques de génération automatique optimisées, ainsi que de techniques de combinaisons automatiques d'objectifs de tests. Elle apporte en plus une méthode de génération d'objectifs de tests qui guide le testeur tout au long de ce processus. Enfin, elle fournit au testeur les moyens de gérer explicitement les risques pris, en justifiant tous ses choix lors de l'élimination explicite de certains objectifs ou ensemble d'objectifs de tests.