Université Lille1 - Sciences et Technologies Une méthodologie de génération automatique de suites de tests pour applets Java Card 005.14 Cartes à mémoire Java (langage de programmation) UML (informatique) Text Electronic Thesis or Dissertation fr L'utilisation d'objectifs de tests pour vérifier la conformité des applications par rapport à leurs spécifications s'avère être une des solutions les plus prometteuses pour le domaine de la carte à puce. En effet, elle permet d'allier à la fois rigueur et risques, non seulement en tirant profit des techniques de génération automatique de tests, mais également en permettant au testeur d'éliminer les tests qui ne lui semblent pas pertinents. Cependant, tant que cette élimination est implicite, le testeur ne peut pas réellement maîtriser les risques. Pour répondre à ce besoin, nous proposons une méthodologie de test d'applications embarquées dans les Java Card. Cette méthodologie s'appuie sur des travaux de recherche menés autour de la génération de suites de tests à partir d'UML. Elle tire ainsi profit de techniques de génération automatique optimisées, ainsi que de techniques de combinaisons automatiques d'objectifs de tests. Elle apporte en plus une méthode de génération d'objectifs de tests qui guide le testeur tout au long de ce processus. Enfin, elle fournit au testeur les moyens de gérer explicitement les risques pris, en justifiant tous ses choix lors de l'élimination explicite de certains objectifs ou ensemble d'objectifs de tests. application/pdf 1 : 1 Mo https://pepite-depot.univ-lille.fr/RESTREINT/Th_Num/2001/50376-2001-9.pdf Martin Hugues 1900-01-01 061445231 2001LIL10015 2001-01-01 Informatique Université Lille1 - Sciences et Technologies 026404184 Doctorat non oui Geib Jean-Marc 035777303 ddc:000 ASCII PDF 9999 restriction 2012-01-01 9999-01-01 restriction 2012-01-01 9999-01-01