Titre original :
Caractérisation des transistors à effet de champ : mesure précise de la matrice de répartition et détermination directe du schéma équivalent
Mots-clés en français :
- Sciences appliquées : électronique
- Field effect transistor/characterization/microwave transistor/performance analysis/calibration/extraction/s parameter/small signal behavior/testing equipment
- Transistor effet champ/caractérisation/transistor hyperfréquence/analyse performance/étalonnage/extraction/paramètre s/régime signal faible/appareillage essai
- Transistors à effet de champ
- Langue : Français
- Discipline : Electronique
- Identifiant : Inconnu
- Type de thèse : Doctorat
- Date de soutenance : 01/01/1989
Résumé en langue originale
Ce mémoire présente une étude théorique et expérimentale des méthodes et moyens de caractérisation hyperfréquence des composants à effet de champ. La première partie présente une étude des techniques d'étalonnage adaptées au TEC ; la seconde, une méthode d'extraction directe du schéma équivalent petit signal. En dernière partie, une cellule de test 40 GHz adaptée aux mesures des TEC est conçue, réalisée et testée. On décrit aussi la mise en œuvre d'un système de mesures hyperfréquence sous pointes.
- Directeur(s) de thèse : Cappy, Alain
AUTEUR
- Dambrine, Gilles
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