Titre original :
Caractérisation des défauts dans les structures M.O.S. par étude de transitoires périodiques
- Langue : Français
- Discipline : Electronique
- Identifiant : Inconnu
- Type de thèse : Doctorat
- Date de soutenance : 01/01/1982
Résumé en langue originale
Etude de la capacité en régime statique : mesures c-v permettant de déterminer les états électroniques d'interface. Etude de la capacité en régime dynamique par transitoire non périodique et par transitoire périodique (technique dlts). Modèle permettant de déterminer les processus d'émission et de capture entre un niveau donne et les bandes de conduction et de valence et le sens du transitoire de capacité lie a cette variation de charge
AUTEUR
- Gallati, Marie-Hélène
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