• Langue : Français
• Discipline : Microondes et Microtechnologies
• Identifiant : 2005LIL10006
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/2005

Résumé en langue originale

Les techniques microondes et millimétriques sont bien adaptées pour le Contrôle Non Destructif (CND) de matériaux mais celles-ci ne sont pas encore. utilisées à grande échelle dans un contexte industriel. L'analyseur de réseaux vectoriel (ARV) jusqu'ici considéré comme un outil de choix dans le domaine de la caractérisation microondes en laboratoire s'avère souvent surdimensionné pour beaucoup d'applications industrielles. Ce travail consiste donc à proposer un dispositif, le "S-Parameters Measurement System" (SPMS), permettant la mesure d'un coefficient de réflexion S11, il est conçu dans une optique de simplicité et de faible coût. Deux démonstrateurs ont été réalisés, les SPMS-35000 et SPMS-60000 fonctionnant respectivement à 35 GHz et 60 GHz. La mesure du S11 en espace libre d'un matériau sous test, a d'abord permis la détection et la localisation de défauts de petite taille (quelques mm) enfouis dans un matériau diélectrique. Puis, l'utilisation d'outils de traitement de signal permettant la résolution du problème inverse, la déconvolution aveugle et les réseaux de neurones artificiels, a rendu possible l'évaluation de la géométrie et de la profondeur du défaut.