• Langue : Français
• Discipline : Electronique
• Identifiant : 2002LIL10072
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/2002

Résumé en langue originale

L'utilisation des micro-ondes comme moyen d'investigation de matériaux et de structures est de plus en plus répandue. Ainsi, elles apparaissent comme une technique de choix pour la caractérisation d'un large éventail de matériau, mais également comme une technique complémentaire à des procédés plus traditionnels tels les rayons X, les infrarouges, les ultrasons, ... Le travail présenté dans ce mémoire concerne la caractérisation d'objets enfouis, par des techniques micro-ondes, qui repose sur le relevé du coefficient de réflexion d'une sonde placée au contact du milieu sous test. On entend par objets enfouis, une inclusion métallique ou diélectrique noyée dans un milieu hôte. Dans le cas de l'inclusion diélectrique, la permittivité est différente de celle du milieu environnant. Ce type d'études trouve des applications dans les domaines industriel, scientifique et médical. Dans le but de détecter, localiser et dimensionner les inclusions, des campagnes de mesures ont été réalisées à l'aide d'un système, le SPMS-2450, développé au laboratoire pour la mesure de paramètres S à la fréquence de 2,45 GHz. Celles-ci ont permis de vérifier la pertinence des résultats issus de la modélisation à l'aide, d'une méthode modale développée au laboratoire, et du logiciel commercial HFSS d'Ansoft. La prédiction du cœfficient de réflexion selon une ou deux dimensions, connaissant les caractéristiques de la structure de test, a ainsi été rendue possible. Quant au problème inverse, nous avons mis au point des techniques de déconvolution par filtrage de Wiener qui permettent d'estimer la section de l'objet sous test.