Université Lille1 - Sciences et Technologies Les clichés de diffraction électroniques de lignes CBED et LACBED pour la caractérisation de défauts cristallins : application à des aciers industriels 548.83 Imagerie (technique) Cristaux Défauts Électrons Diffraction Text Electronic Thesis or Dissertation fr Les cliches obtenus dans les techniques de diffraction electronique en faisceau convergent (cbed) et de diffraction electronique en faisceau convergent a grand angle (lacbed), provenant d'un microscope electronique a transmission, sont constitues de lignes. Les cliches de lignes cbed permettent, en particulier, d'orienter beaucoup plus facilement et precisement un cristal que les cliches de points. Les cliches de lignes lacbed sont d'une tres grande richesse car ils contiennent un tres grand nombre de lignes et possedent simultanement l'image de la zone illuminee de l'echantillon. Cela permet de caracteriser les defauts cristallins. Auparavant, la technique lacbed etait surtout appliquee a des echantillons peu deformes et relativement peu fautes comme les semi-conducteurs, les mineraux et les ceramiques. En contrepartie de la tres grande richesse de ces cliches, la mise en uvre d'outils est necessaire. Un logiciel d'indexation semi-automatique, applicable a n'importe quel microscope electronique, a ete mis au point pour faciliter l'indexation des cliches de lignes et aussi de lever certaines ambiguites. Nous avons clairement distingue les roles des differents niveaux de symetrie d'orientation (classes de symetrie holoedre, de laue et de symetrie) d'un cristal sur l'aspect des cliches de lignes. Ces techniques ont ete appliquees avec succes a la caracterisation cristallographique de defauts cristallins dans des echantillons d'aciers qui sont tres deformes : dislocations parfaites et dislocations intergranulaires, macles, joints de grains, fautes d'empilement, et joints heterophases. L'aspect desorientation d'un joint de grains a ete generalise aux joints heterophases et a l'ensemble des symetries d'orientation des deux cristaux. Pour cela, un logiciel de calcul de la desorientation a ete mis au point. Differentes methodes d'analyses de traces de defauts plans et lineaires ont ete aussi mises au point, s'appliquant egalement aux indices cristallographiques eleves. application/pdf 1 : 1 Mo https://pepite-depot.univ-lille.fr/RESTREINT/Th_Num/2000/50376-2000-364.pdf Gaillot Francis 1900-01-01 122650441 2000LIL10215 2000-01-01 Sciences des matériaux Université Lille1 - Sciences et Technologies 026404184 Doctorat non oui Morniroli Jean-Paul 030487390 ddc:540 ASCII PDF 9999 restriction 2012-01-01 9999-01-01 restriction 2012-01-01 9999-01-01