• Langue : Français
• Discipline : Productique, automatique et informatique industrielle
• Identifiant : Inconnu
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/1999

Résumé en langue originale

L'objectif de ce travail est d'établir le schéma d'instrumentation d'une installation permettant de détecter et de localiser les défaillances de composants définis dans un cahier des charges de surveillance. L'approche choisie s'appuie sur l'analyse structurelle du système et sur la représentation de sa structure sous forme de graphe biparti oriente. Une définition généralisée de la notion de défaillance (la surveillance d'un composant consiste en réalité à surveiller la relation qui modélise un de ces modes de comportement), une nouvelle structuration des résidus (matérialisant leur sensibilité structurelle en tenant compte de l'utilisation ou non des relations dans leur calcul) et une nouvelle définition des signatures de pannes (en fonction des relations et non plus des variables) ont permis d'établir les critères de capacité de détection et de localisation de tous les types de défaillances (capteurs, actionneurs, systèmes). Une méthodologie de placement de capteurs a été élaborée dans le but de rendre détectable et localisable l'ensemble des relations à surveiller en s'appuyant sur la construction d'un sous-ensemble de résidus suffisant pour localiser leurs défaillances. Etant donné que les algorithmes proposés donnent toutes les configurations de placement de capteurs répondant au cahier des charges de surveillance, il convient d'utiliser des critères supplémentaires permettant d'effectuer un choix parmi les solutions obtenues. Le premier critère consiste à évaluer le coût du système de surveillance. Le second critère vise à évaluer les services additionnels de surveillance afin de tenir compte des détections et localisations éventuelles de relations n'appartenant pas au cahier des charges de surveillance. Le meilleur compromis pourra être déterminé en utilisant des procédures de décision multicritères hiérarchiques ou basées sur le surclassement.