Université Lille1 - Sciences et Technologies Etude des amplificateurs opérationnels perturbés par des signaux de fréquences très supérieures à leur bande passante Effects of electromagnetic interference on bifet operational amplifier in the frequency range 100 mhz-1 ghz 621.384 12 Amplificateurs opérationnels Traitement du signal Compatibilité électromagnétique Brouillage électromagnétique Text Electronic Thesis or Dissertation fr La these traite de la comptabilite electromagnetique et plus particulierement des effets introduits par des interferences electromagnetiques agissant sur des amplificateurs operationnels. Des travaux anterieurs ont deja aborde ce sujet lorsque la frequence du signal perturbateur entre dans la bande passante du composant. C'est-a-dire pour des perturbateurs de frequence inferieure a 10 mhz. Toutefois lorsqu'il s'agit de perturbateurs de frequence bien superieure intervenant entre une centaine de mhz et quelques ghz, peu d'informations sont aujourd'hui disponibles. Notre these a donc consiste a mettre en oeuvre des mesures et proposer des interpretations physiques pour comprendre l'origine des comportements exotiques observes en sortie des amplificateurs soumis a ces parasites de tres hautes frequences. Outre les difficultes de mise en oeuvre du banc de mesure devant injecter des signaux de frequence aussi elevee et surtout connaitre la tension qui perturbe reellement le composant integre, notre travail a revele deux classes de phenomenes. Des detections du signal hf dont les consequences sont une demodulation anarchique interpretee par le composant. Ces phenomenes ont trouve leur justification physique par une etude approfondie de l'etage d'entree differentiel du composant montrant qu'ils etaient la combinaison de mecanismes de non linearite et d'anomalie dans le controle de la source de courant interne a l'etage. Le second effet observe qui se manifeste surtout au-dessus de 400 mhz est le transfert du signal hf au travers du composant. La simulation theorique de ce phenomene a revele un bon accord avec l'experience montrant que l'ampleur du phenomene est surtout fonction de la contribution des capacites et inductances parasites internes au circuit integre. application/pdf 1 : 1 Mo https://pepite-depot.univ-lille.fr/LIBRE/Th_Num/1998/50376-1998-139.pdf Druant Olivier 1900-01-01 120912376 1998LIL10059 1998-01-01 Electronique Université Lille1 - Sciences et Technologies 026404184 Doctorat non oui Demoulin Bernard 060164336 ddc:620 ASCII PDF 9999