Université Lille1 - Sciences et Technologies Mise en oeuvre et évaluation d'un outil basé sur la méthode des lignes pour l'étude de discontinuités planaires Implementation and evaluation of a electromagnetic simulator based on the method of lines for the characterization of planar discontinuities 621.381 3 Circuits intégrés pour microondes Différences finies Text Electronic Thesis or Dissertation fr ateurs optiques nous a amené à inclure à notre outil la possibilité de prendre en compte des couches présentant une anisotropie électrique. Nous avons développé pour le cas du régime libre, un code de calcul généraliste. Cet algorithme original permet l'étude de structures planaires de topologies quelconques. Le troisième chapitre est relatif à l'exploitation des codes de calcul développés. Il s'agit en premier lieu de valider nos résultats en les comparant aux caractéristiques obtenues par d'autres simulations, numériques ou expérimentales. Un deuxième objectif consiste à évaluer l'aptitude de la méthode des lignes à la simulation de guides de propagation et de discontinuités variés. A ce titre, nous avons testé notre analyseur électromagnétique sur des résonateurs de formes rectangulaire et semi-circulaire. Ces études nous ont permis de quantifier les performances de la méthode notamment en la comparant à d'autres simulateurs. A l'issue de ce mémoir e, nous avons dressé dans le quatrième chapitre, les perspectives d'évolution de nos travaux, relatifs à l'amélioration des codes développés ou à la mise en oeuvre de méthodes mixtes. Cette étude à pour objectif de développer et d'évaluer les potentialités d'un code numérique pour appréhender la caractérisation de discontinuités complexes propres aux circuits intégrés millimétriques et aux composants électro-optiques. Ce code de calcul est basé sur une méthode de différences finies appelée méthode des lignes. Dans le premier chapitre, nous avons présenté la méthode des lignes appliquée à l'étude de guides de propagation. La mise en oeuvre s'appuie sur les discrétisations uniforme ou non-équidistante. Nous avons élargi l'analyse aux topologies plus complexes telles les structures multi-niveaux ou multi-rubans. Le deuxième chapitre présente la méthodologie relative à l'analyse des discontinuités par une approche tridimensionnelle. Nous avons présenté les discrétisations bi-dimensionnelles, équidistante ou non-uniforme. La perspective de pouvoir appréhender le comportement de structures optiques tels les modulateurs ou les commut application/pdf 1 : 1 Mo https://pepite-depot.univ-lille.fr/LIBRE/Th_Num/1995/50376-1995-333.pdf Delplanque Yves 1900-01-01 12093860X 1995LIL10168 1995-01-01 Électronique Université Lille1 - Sciences et Technologies 026404184 Doctorat non oui ddc:620 ASCII PDF 9999