Université Lille1 - Sciences et Technologies Caractérisation in-situ de l'epitaxie en phase vapeur aux organométalliques : Application à la croissance de miroirs de Bragg et résonateurs Fabry-Perot non-lineaires 540 Text Electronic Thesis or Dissertation fr Ce travail presente la caracterisation de l'epitaxie en phase vapeur aux organometalliques (epvom) de gaas et gaalas par reflectometrie laser. Cette technique permet la mesure en temps reel de l'epaisseur epitaxiee. Quatre longueurs d'onde laser ont ete utilisees: 1320 nm, 633 nm, 514 nm et 442 nm, auxquelles correspondent quatre domaines d'epaisseurs. Afin d'etalonner la mesure, la determination dans nos conditions de croissance de l'indice optique effectif de chaque materiau a ete realisee en utilisant une methode de caracterisation ex-situ appropriee a chaque longueur d'onde. La composition de l'alliage gaalas a ete mesuree in-situ, ainsi que la periode de multi-puits quantiques gaas/gaalas. Des phenomenes transitoires de croissance ont pu etre observes en temps reel. Par une precalibration in-situ des vitesses de croissance, des miroirs de bragg a 980 nm ont ete obtenus avec une reproductibilite et une precision de 1% de la longueur d'onde de bragg. Cette meme methode appliquee a la croissance des cavites de fabry-perot non-lineaires a permis d'obtenir un effet bistable a des seuils de 9 mw et 1 mw respectivement pour les longueurs d'onde de 980 nm et 825 nm. application/pdf 1 : 1 Mo https://pepite-depot.univ-lille.fr/LIBRE/Th_Num/1994/50376-1994-383.pdf Raffle Yvan 1900-01-01 120637553 1994LIL10194 1994-01-01 Electronique Université Lille1 - Sciences et Technologies 026404184 Doctorat non oui Decoster Didier 060655992 ddc:540 ASCII PDF 9999