• Langue : Français
• Discipline : Electronique
• Identifiant : Inconnu
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/1994

Résumé en langue originale

Nous etudions l'influence de la technologie et de l'association des composants logiques sur la sensibilite electromagnetique des cartes electroniques. Dans une premiere partie, nous analysons le comportement d'un dispositif sous test simple vis-a-vis d'une perturbation electromagnetique de mode rayonne. Ce dispositif sous test est constitue de deux portes inverseuses connectees en serie par une ligne de transmission couplee a l'onde electromagnetique. Un outil statistique est developpe afin de caracteriser les defauts statiques qui apparaissent en sortie sur les etats logiques pour des perturbations de forte amplitude. Nous utilisons egalement une methode de mesure visualisant l'excursion du signal perturbe selon l'amplitude du champ electrique. Apres avoir etudie l'association de differentes familles d'une part de la technologie cmos (hc et hcu) et d'autre part de la technologie ttl (ls, als, as, f et s), nous analysons la propagation des perturbations le long d'une chaine de composants logiques. Nous utilisons le logiciel pspice afin de simuler les signaux induits sur la ligne de transmission. Dans une deuxieme partie, nous appliquons nos resultats experimentaux afin de tenter d'ameliorer la securite de systemes redondants soumis a une perturbation electromagnetique. Pour ce faire, nous etudions la sensibilite electromagnetique d'une fonction de securite effectivement implantee sur un systeme de transport. La securite de la carte est fondee sur une redondance materielle: une des voies de traitement de l'information emploi la technologie cmos et l'autre voie la technologie ttl.