Titre original :

Étude comparative de l'approche dans le domaine spectral et d'une formulation par éléments finis pour la simulation des dispositifs microondes et optroniques

  • Langue : Français
  • Discipline : Electronique
  • Identifiant : Inconnu
  • Type de thèse : Doctorat
  • Date de soutenance : 01/01/1992

Résumé en langue originale

de type éléments finis. Dans la formulation retenue, les six composantes de champ sont approximées, sur un élément, par une interpolation nodale classique. Cette méthode constitue un moyen pour assurer l'élimination des solutions parasites. Les différents tests effectués pour éprouver la fiabilité de notre algorithme sont présentés dans le quatrième chapitre. Procédant par étapes successives, nous avons appliqué ce formalisme à des structures de complexité croissante, pour aboutir finalement à l'analyse du comportement d'un modulateur électrooptique réalisé sur niobate de lithium uxième chapitre, après avoir mis en évidence les insuffisances de logiciels professionnels dès que l'on cherche à quantifier les pertes d'insertion de lignes plaquées, nous proposons une méthode de détermination systématique et fiable de ces pertes, à partir de l'approche dans le domaine spectral, se démarquant des méthodes classiques de perturbation. En premier lieu, nous testons la fiabilité de notre formalisme par rapport aux relevés expérimentaux effectués sur des lignes métalliques classiques. Nous abordons ensuite une étude prospective visant à définir les potentialités d'application des matériaux supraconducteurs lors de la réalisation de circuits passifs, et ce, en considérant des structures microrubans et coplanaires. Afin d'appréhender des structures de topologies plus complexes, pour lesquelles l'approche dans le domaine spectral ne peut apporter que des réponses partielles, nous avons développé et présenté dans la troisième partie une analyse- L'objectif initial de notre travail consistait à définir les potentialités d'application de films supraconducteurs à haute température critique, lors de la réalisation de dispositifs microondes. Chiffrer l'apport d'un ruban supraconducteur par rapport à une métallisation classique nous impose de prendre en considération les dimensions effectives des rubans. Ce constat nous a amené à développer des méthodes de simulation qui font abstraction de la notion de calcul de perturbation. Deux démarches ont été retenues : la première repose sur la modification et l'extension de l'approche dans le domaine spectral, la seconde s'appuie sur une formulation par éléments finis. La première partie de ce mémoire rappelle les principales phases de la mise en œuvre de l'approche dans le domaine spectral. Dans cette analyse, la prise en compte simultanée de la conductivité des rubans et de leur épaisseur nécessite l'introduction de la notion d'impédance de surface. Dans le de

AUTEUR

  • Kinowski, Didier
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