• Langue : Français
• Discipline : Electronique
• Identifiant : Inconnu
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/1991

Résumé en langue originale

L'usage de plus en plus fréquent des logiques bas niveau expose certaines fonctions à un risque électromagnétique important. On comprend alors l'intérêt qu'il y a à réduire ces risques en agissant sur la sensibilité électromagnétique des équipements électroniques. C'est à ce problème qu'est consacrée notre thèse, où nous cherchons à reconnaître à travers les différentes familles technologiques de composants logiques actifs des comportements singuliers vis-à-vis des agressions électromagnétiques. Dans le premier chapitre nous mettons en place deux dispositifs d'injection de perturbation électromagnétique de type impulsionnel, ceux-ci trouvent leur justification dans la modélisation du phénomène de couplage. Dans les deux chapitres suivants nous exploitons les deux dispositifs précédents en les appliquant aux ports d'accès de circuits NAND de différentes familles technologiques. Les essais pratiqués montrent le rôle important joué par la nature non linéaire des impédances mises en jeu lors de l'agression électromagnétique des circuits. Enfin dans le quatrième chapitre nous présentons les différentes possibilités offertes par un logiciel développé au laboratoire, qui permet de simuler le résultat de l'induction électromagnétique produit sur des pistes de circuits imprimés à des circuits intégrés