Titre original :
Caractérisation par méthodes capacitives de couches de silicium implantées puis guéries par recuit thermique ou laser
- Langue : Français
- Discipline : Sciences physiques
- Identifiant : Inconnu
- Type de thèse : Doctorat
- Date de soutenance : 01/01/1981
AUTEUR
- Blosse, Alain
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