Titre original :

Caractérisation et simulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'inductions engendrées par des micro-ondes de forte puissance

Mots-clés en français :
  • Brouillage électromagnétique -- Simulation par ordinateur
  • Susceptibilité magnétique -- Mesures
  • Circuits intégrés -- Simulation par ordinateur
  • Couplage, Théorie du
  • Ondes électromagnétiques -- Propagation
  • Circuits imprimés
  • Diaphonie -- Simulation par ordinateur

  • Langue : Français
  • Discipline : Électronique
  • Identifiant : Inconnu
  • Type de thèse : Doctorat
  • Date de soutenance : 01/01/2005

Résumé en langue originale

Cette thèse a pour objectif de comprendre les phénomènes pouvant apparaître sur les circuits imprimés lorsqu'ils sont soumis à des interférences provenant de sources Micro-ondes de Fortes Puissances. Le couplage de ces ondes électromagnétiques sur les éléments conducteurs peut donner naissance à des perturbations de plusieurs volts à des fréquences de l'ordre du GHz, il est alors possible que les lignes de plusieurs centimètres connectées aux composants entrent en résonance. Ce phénomène est très pénalisant pour le fonctionnement du système. Pour reproduire ce type de contrainte, nous exploitons le couplage par diaphonie entre deux lignes de transmission parallèles qui permet d'induire une perturbation assimilable à l'illumination rasante d'une onde plane. A l'aide de ce dispositif, nous étudions le comportement d'une ligne de transmission lorsqu'elle est connectée à un composant non linéaire tout d'abord réduit à une diode, nous regarderons plus particulièrement les phénomènes survenant aux abords des résonances quart d'onde et demi onde. Ces observations sont ensuite étendues au cas d'un circuit intégré logique simple de type inverseur puis à un composant programmable de technologie évoluée. Cette étude, complétée par des mesures de susceptibilité réalisées sur ces composant connectés à une ligne perturbée, a permis de mettre en évidence l'impact des protections contre les décharges électrostatiques sur la sensibilité des composants. D'autre part, nous montrons que l'impédance de sortie des circuits intégrés est également un paramètre qui influe fortement la susceptibilité du composant placé en aval. Enfin, une étude prospective sur des logiciels de simulation usuels disponibles au laboratoire a permis d'appréhender les difficultés et les contraintes d'une prédiction numérique de la sensibilité des systèmes électroniques, nous montrons que pour prendre en considérations les phénomènes décrits précédemment, une solution temporelle est préférable aux approches classiques abordées dans le domaine fréquentiel.

  • Directeur(s) de thèse : Demoulin, Bernard

AUTEUR

  • Bazzoli, Sébastien
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