• Langue : Français
• Discipline : Productique - Automatique et informatique industrielle
• Identifiant : Inconnu
• Type de thèse : Doctorat
• Date de soutenance : 01/01/2000

Résumé en langue originale

Dans ce mémoire, nous proposons de nouveaux critères pour l'évaluation des détecteurs discrets de détection de contours dans les images numériques. En utilisant un modèle de contour de type échelon discret nous définissons les critères de détection, de localisation et de proximité. Ces trois critères s'expriment simplement à partir de la réponse impulsionnelle discrète des opérateurs et s'appliquent sur les détecteurs procédant par une approche dérivative. Le critère de détection permet de quantifier l'influence du bruit sur la réponse du détecteur à notre modèle de contour. Le critère de localisation quantifie l'écart entre la position réelle du contour et la position détectée en présence de bruit. Un modèle de contour ne présentant qu'une seule transition n'est pas très représentatif des images réelles. Afin de tenir compte de la présence d'un contour proche du contour à détecter nous définissons le critère de proximité. Il permet de fixer les limites sur l'erreur de localisation commise par le détecteur due au contour proche. L'application de ces critères sur les filtres dérivatifs utilisant un masque de convolution (filtres RIF) ne posant aucun problème nous nous sommes intéressés plus particulièrement aux détecteurs à réponse impulsionnelle infinie définis par une fonction de transfert du second ordre récursif. Pour ces détecteurs, nous exprimons nos critères en considérant les paramètres de cette fonction de transfert. À partir de ces nouveaux critères il est possible d'évaluer les performances de l'ensemble des détecteurs discrets. Dans la partie résultat nous proposons deux méthodes d'utilisation de nos critères, l'une pour la sélection d'un filtre, l'autre pour la comparaison des détecteurs. La première approche consiste à considérer un détecteur et à déterminer les paramètres adéquats pour mettre en évidence un contour dans une configuration donnée. La seconde approche consiste à comparer à facteur d'échelle constant les différents détecteurs.