Titre original :

Systèmes et techniques interférométriques pour la caractérisation hyperfréquence

Titre traduit :

Interferometric systems and techniques for microwave characterization

Mots-clés en français :
  • Interférométrie six-port
  • Interférométrie quatre-port

  • Mesures microondes
  • Matériaux -- Propriétés électromagnétiques
  • Interférométrie
  • Diélectriques
  • Microscopie en champ proche
  • Imagerie microonde
  • Microscopie à force atomique
  • Contrôle non destructif
  • Réflectomètres
  • Langue : Français
  • Discipline : Sciences physiques
  • Identifiant : Inconnu
  • Type de mémoire : Habilitation à diriger des recherches
  • Date de soutenance : 13-12-2017

Résumé en langue originale

Ce manuscrit se veut être une synthèse non exhaustive qui retrace l’essentiel de mes activités scientifiques et pédagogiques. Le document s’articule autour de quatre parties. La première partie retrace mes activités de recherche effectuées à l’IEMN. Elle détaille, par ailleurs, les enseignements et les responsabilités pédagogiques assumés principalement au sein du département GEII de l’IUT A de Lille. La deuxième partie est consacrée au contexte général des travaux de recherche. Les fondements théoriques et un état de l’art relatifs aux techniques de caractérisation hyperfréquence sont présentés. Ces méthodes adressent des besoins de mesure sur un large panel d’applications. Les activités scientifiques dans la période 2003-2017 au sein de l’IEMN autour de la caractérisation électrique et électromagnétique à plusieurs échelles de dimensions sont décrites dans la troisième partie. Bien que les méthodes classiques soient largement décrites dans la littérature et établies dans les laboratoires académiques et industriels, deux voies originales et ambitieuses ont été explorées avec pour objectifs respectifs : (i) le développement de capteurs pour le Contrôle Non Destructif (CND) basés sur la technique interférométrique six-port dans un contexte hors laboratoire, (ii) le développement de plates-formes de mesure pour la nano-caractérisation de matériaux et de dispositifs électriques basées sur des techniques interférométriques accordables. Les enjeux et défis autour de ces deux thématiques sont au cœur d’initiatives internationales d’envergure. C’est dans ce contexte très concurrentiel que différentes actions sont menées à l’IEMN pour renforcer la position qui est la sienne sur la scène internationale. Les performances obtenues dans le cadre de ces recherches sont à l’Etat de l’Art. Enfin, dans la dernière partie, un éclairage succinct sur les perspectives de recherche est décrit.

Résumé traduit

My main scientific and educational activities are described in this manuscript. The document is divided in four parts. The first part reviews my research activities at IEMN. In addition, it details teaching and educational responsibilities assumed mainly within the department GEII of the IUT A of Lille. The second part is devoted to the general context of the research work. The theoretical foundations and a state of the art relating to microwave characterization techniques are presented. These methods address measurement needs on a wide range of applications. The scientific activities in the period 2003-2017 within the IEMN around electrical and electromagnetic characterization at several scales of dimensions are described in the third part. Although classical methods are widely described in the literature and established in both academic and industrial laboratories, two original and ambitious paths have been explored with the following objectives: (i) the development of sensors for Non Destructive Testing (NDT) based on the six-port interferometric technique for industrial applications, (ii) the development of measurement platforms for the nano-characterization of materials and electrical devices based on tuneable interferometric techniques. The challenges around these themes are at the heart of major international initiatives. It is in this very competitive context that various actions are carried out at IEMN to strengthen its position at the international level. The performances obtained are at the State of the Art. Finally, in the last part, a brief overview of research perspectives is described.

  • Directeur(s) de thèse : Dambrine, Gilles
  • Laboratoire : Institut d'électronique, de microélectronique et de nanotechnologie (IEMN)
  • École doctorale : École doctorale Sciences pour l'Ingénieur (Lille)

AUTEUR

  • Haddadi, Kamel
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