• Langue : Français
• Discipline : Sciences physiques
• Identifiant : Inconnu
• Type de mémoire : Habilitation à diriger des recherches
• Date de soutenance : 01/01/2012

Résumé en langue originale

La fonction principale de la microscopie électronique en transmission (MET) est de détecter et d'analyser les signaux engendrés quand un faisceau d’électrons de haute énergie interagit avec une lame mince. Cela permet d'étudier des zones spécifiques à l’échelle submicrométrique (100 nm - 1 m), nanométrique (1-100 nm) voire atomique ( 1 nm). D'une part, l'information interprétable, compte tenu des événements de la diffusion élastique en microscopie électronique classique, consiste à utiliser l'imagerie conventionnelle en utilisant le contraste dû à une différence de masse ou de diffraction de Bragg (diffraction électronique). Par opposition, la microscopie électronique à haute résolution (analytique) (HR(A)EM) implique l’imagerie à haute résolution en utilisant le contraste de phases et de numéro atomique. D'autre part, la diffusion inélastique engendre des signaux importants, principalement sous la forme de rayons X et de spectroscopie de perte d'énergie d'électrons qui fournissent des informations complémentaires. Tout au long de ma carrière, j'ai développé une expertise pluridisciplinaire sur (i) la production des métaux, des alliages et des composites à matrice métallique pour les applications d'ingénierie. La synthèse de ces matériaux couvre la métallurgie des poudres, le traitement de surface, ainsi que la solidification rapide et (ii) la caractérisation des microstructures à l'aide de la microscopie électronique en transmission conventionnelle afin de développer une compréhension approfondie des relations entre les paramètres de procédé, la microstructure et les propriétés. La caractérisation des microstructures par les techniques de diffraction électronique (diffraction électronique en précession (PED) et diffraction électronique en faisceau convergent (CBED)) a été plus particulièrement exploitée. Les objectifs de ces applications originales consistaient en l'identification de la symétrie ‘idéale’ et des réflexions cinématiquement interdites et en la détermination des lois de macles, de l'état de l'ordre et de l’identification des des groupes spatiaux. Le développement de nouveaux composites à matrice métallique qui seront sollicités dans des conditions de service extrêmes présente des défis particuliers en science des matériaux. L’amélioration des performances de ces matériaux requiert la connaissance de la microstructure aux échelles nanométrique et atomique. La caractérisation quantitative à l'aide de la HR(A)EM avancée devient donc cruciale, non seulement pour des raisons fondamentales, mais aussi du point de vue des applications. En plus de mon expertise dans les domaines du développement de matériaux et de la microscopie électronique en transmission conventionnelle, des compétences fondées sur la HR(A)EM avancée seront acquises dans l’avenir et les applications de cette technique seront également développées.